Logo BSU

Просмотр Авторы Комаров, Ф. Ф.

Перейти: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

или введите несколько первых символов:  
Результаты 1 - 20 из 94  следующий >
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
янв-20066-я Международная конференция «Взаимодействие излучений с твердым телом»Анищик, В. М.; Комаров, Ф. Ф.; Лабуда, А. А.
2000Аппроксимация эмиссионного тока электронов в диэлектрик затвора МОП-ПТАндреев, А. Д.; Комаров, Ф. Ф.; Михей, В. Н.
мая-2006Взаимодействие быстрых ионов водорода с поверхностью кремния при скользящих углах паденияБойко, Е. Б.; Камышан, А. С.; Комаров, Ф. Ф.; Лагутин, А. Е.
2017Взаимодействие электромагнитного излучения с полимерными материалами, содержащими углеродные нанотрубкиГринченко, М. В.; Парфимович, И. Д.; Комаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Григорчук, Е. С.; Ткачев, А. Г.
2017Влияние «горячих» условий имплантации и высокотемпературного отжига на процессы формирования нанокластеров ZnSe в слоях SiO2Моховиков, М. А.; Комаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Пархоменко, И. Н.; Власукова, Л. А.; Wendler, E.
2017Влияние добавки углерода на структуру и морфологию покрытий Ti-Al-NКлимович, И. М.; Баран, Л. В.; Королик, О. В.; Зайков, В. А.; Комаров, Ф. Ф.
2017Влияние изотермического отжига и импульсной лазерной обработки на светоизлучающие свойства пленок SiNX/Si с избытком кремнияИвлев, Г. Д.; Пархоменко, И. Н.; Романов, И. A.; Шулейко, Д. В.; Катаев, Ф. В.; Комаров, Ф. Ф.; Власукова, Л. А.
2015ВЛИЯНИЕ ИОННОГО ОБЛУЧЕНИЯ НА СТРУКТУРУ И СВОЙСТВА ПЛЁНОК TiN, TiAlN, TiAlYNКонстантинов, С. В.; Комаров, Ф. Ф.; Стрельницкий, В. Е.
2015Влияние наносекундного лазерного облучения на состояние тонких плёнок TiAlN/Si.Ивлев, Г. Д.; Зайков, В. А.; Климович, И. М.; Комаров, Ф. Ф.; Людчик, О. Р.
2016Влияние режимов имплантации и термообработок на видимую фотолюминесценцию Zn(Se, S) нанокластеров в SiO2Моховиков, М. А.; Комаров, Ф. Ф.; Власукова, Л. А.; Мильчанин, О. В.; Пархоменко, И. Н.; Мудрый, А. В.; Wendler, E.
2016Влияние режимов магнетронного распыления на оптические свойства TiAlN покрытий для селективных солнечных поглотителейЗайков, В. А.; Климович, И. М.; Комаров, Ф. Ф.; Королик, О. В.; Людчик, О. Р.
2010Влияние режимов термообработки ионно- имплантированных слоев кремния на выход фотолюминесценции квантовых точек InAsКомаров, Ф. Ф.; Власукова, Л. А.; Мильчанин, О. В.; Гребень, М. В.
2011Влияние режимов термообработки на структурные и оптические свойства нанокристаллов InAs и GaSb в ионноимплантированном кремнииКомаров, Ф. Ф.; Власукова, Л. А.; Гребень, М. В.
2011Влияние режимов термообработки на структурные и оптические свойства нанокристаллов InAs и GaSb в ионноимплантированном кремнииКомаров, Ф. Ф.; Власукова, Л. А.; Мильчанин, О. В.; Гребень, М. В.; Бабаченок, О. В.; Моховиков, М. А.
2017Влияние соотношения Al/Ti на структуру и оптические свойства покрытий Ti-Al-C-N, сформированных методом реактивного магнетронного распыленияКлимович, И. М.; Зайков, В. А.; Комаров, Ф. Ф.; Жигулин, Д. В.; Гусейнов, Н. Р.
2017Влияние условий синтеза и облучения высокоэнергетическими ионами ксенона на фотолюминесценцию системы «нанокластеры InAs В Si и SiO2»Комаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Пархоменко, И. Н.; Власукова, Л. А.; Нечаев, Н. С.; Wendler, E.
2017Влияние химического состава на оптические свойства пленок нитрида кремния, полученных методом реактивного магнетронного распыленияРоманов, И. A.; Климович, И. М.; Комаров, Ф. Ф.; Зайков, В. А.; Пархоменко, И. Н.; Власукова, Л. А.; Кулешов, В. Н.
2000Воздействие на кремний ускоренных потоков лазерно-эрозионной плазмы тяжелых металловКомаров, Ф. Ф.; Людчик, О. Р.; Петров, С. А.; Соловьев, В. С.
2017Импульсная лазерная обработка и фотолюминесценция кремния, имплантированного селеномИвлев, Г. Д.; Комаров, Ф. Ф.; Пархоменко, И. Н.; Власукова, Л. А.; Нечаев, Н. С.; Моховиков, М. А.; Романов, И. A.; Королик, О. В.
2003Интенсивности рассеяния вторичных дырок в N-канале кремниевых субмикронных МОП-транзисторовБорздов, В. Н.; Галенчик, В. О.; Жевняк, О. Г.; Зезюля, А. В.; Комаров, Ф. Ф.; Малышев, В. С.