Browsing by Author Тявловский, К. Л.
Showing results 1 to 7 of 7
Preview | Issue Date | Title | Author(s) |
| 2020 | Бесконтактное картирование примеси железа в кремнии зондовым зарядочувствительным методом | Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Тявловский, К. Л.; Пантелеев, К. В.; Воробей, Р. И.; Свистун, А. И.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. |
| 2016 | Бесконтактное определение пространственного распределения времени жизни неравновесных носителей заряда в кремнии на основе анализа спектральной зависимости поверхностной фотоЭДС | Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В. |
| 2020 | Зондовые зарядочувствительные методы в технологическом контроле производства больших интегральных схем | Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Жарин, А. Л.; Свистун, А. И.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. |
| 2022 | Комбинированный оптико-магниторекомбинационный преобразователь | Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Тявловский, К. Л.; Шадурская, Л. И. |
| 2022 | Контроль качества полупроводниковых материалов и приборных структур с использованием измерительной установки СКАН-2019 | Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В.; Микитевич, В. А.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. |
| 2008 | Неразрушающий контроль пространственного распределения структурных дефектов в приповерхностных областях полупроводниковых структур | Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Пилипeнкo, В. А.; Плeбaнoвич, В. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Чигирь, Г. Г. |
| 2016 | Фотоприемники с расширенным динамическим диапазоном на основе полупроводников с многозарядными примесями | Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К.; Свистун, А. И.; Шадурская, Л. И.; Яржембицкая, Н. В. |