Logo BSU

Browsing "2014. Материалы и структуры современной электроники" by Issue Date

Jump to a point in the index:
Showing results 1 to 20 of 87  next >
PreviewIssue DateTitleAuthor(s)
2014CW EPR study of natural Mongolian coalsMunkhtsetseg, S.; Lapchuk, N. M.; Poklonski, N. A.; Gorbachuk, N. I.; Tsookhuu, Kh.; Shilagardi, G.; Tsogbadrakh, N.; Oleshkevich, A. N.
2014Impedance of functionalized CNT/epoxy resin compositesKsenevich, V. K.; Gorbachuk, N. I.; Viet, Ho; Wieck, A. D.; Kuzhir, P. P.; Bellucci, S.
2014Анализ методов маскирования и исследование поведения бокового ухода под маску при локальном толстослойном анодировании AlШиманович, Д. Л.; Сокол, В. А.
2014Влияние легирования переходными металлами на диэлектрические характеристики кристаллов TlGaS2Гуртовой, В. Г.; Шелег, А. У.; Мустафаева, С. Н.; Керимова, Э. М.
2014Элементный состав поглощающих слоев на основе соединений Cu(In,Ga)Se2, получаемых на стеклянных подложкахТашлыков, И. С.; Сильванович, Д. А.
2014Исследование характеристик диодов с барьером Шоттки TiB2/ n-GaAsТелеш, Е. В.
2014Моделирование радиационных эффектов в кремниевых структурахМискевич, С. А.
2014Формирование тонких пленок и массивов нано-кристаллов ZnO/Er электрохимическим методомЧубенко, Е. Б.; Бондаренко, В. П.
2014Исследование закономерностей формирования дефектов в монокристаллах синтетического алмаза при облучении ускоренными электронами и отжигеГусаков, Г. А.; Мудрый, А. В.
2014Диэлектрические характеристики конденсаторных структур на основе пленок титаната стронция, сформированных золь-гель методомСохраби, Анараки Х.; Гапоненко, Н. В.; Руденко, М. В.; Завадский, С. М.; Голосов, Д. А.; Гук, А. Ф.; Колос, В. В.; Петлицкий, А. Н.; Турцевич, А. С.
2014Формирование контактных слоев из диборида титана для приборов с барьером Шоттки на арсениде галлияТелеш, Е. В.
2014Модификация приповерхностных слоев имплантированных монокристаллов кремнияВабищевич, С. А.; Вабищевич, Н. В.; Бринкевич, Д. И.; Просолович, В. С.; Русакевич, Д. А.; Янковский, Ю. Н.
2014Инжекционный отжиг радиационно-индуцированного комплекса междоузельный бор-междоузельный кислород в кремниевых n+-p диодахЛастовский, С. Б.; Коршунов, Ф. П.; Якушевич, А. С.; Латушко, Я. И.; Макаренко, Л. Ф.
2014Электронный парамагнитный резонанс нейтронно облученных поликристаллов CVD-алмазовХомич, А. В.; Хомич, А. А.; Лапчук, Т. М.; Олешкевич, А. Н.; Королик, О. В.; Мазаник, А. В.; Мамонтова, А. А.; Лапчук, Н. М.
2014Исследование защитных свойств экранов на основе композита W-Cu для изделий электронной техники от протонов радиационных поясов ЗемлиЯкушевич, А. С.; Ластовский, С. Б.; Богатырев, Ю. В.; Грабчиков, С. С.; Василенков, Н. А.
2014Зонная структура тонких пленок Ca2SiБогородь, В. О.; Мигас, Д. Б.; Филонов, А. Б.
2014Electrophysical properties of TiAlN coatings prepared using controlled reactive magnetron sputteringKlimovich, I. M.; Zaikov, V. V.; Komarov, F. F.; Romanov, I. A.; Pilko, V. V.; Ludchik, O. R.
2014Device-process simulation of silicon diode structures by various parameters of epitaxial filmLagunovich, N. L.; Borzdov, V. M.; Turtsevich, A. S.
2014ЭПР и фотопроводимость в кристаллах СТМ АлмазотАзарко, И. И.; Григорьев, С. В.; Казючиц, Н. М.; Карпович, И. А.; Янковский, О. Н.
2014Сквозное моделирование кремниевых диодов-генераторов шума для конструкторско-технологической оптимизацииБуслюк, В. В.; Дереченник, С. С.; Латий, О. О.; Янковский, Ю. Н.