Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/151954| Title: | Способ определения показателя преломления вблизи края собственного поглощения толстой пленки прямозонного полупроводникового материала: Патент на изобретение |
| Authors: | Тиванов, Михаил Сергеевич Шутько, И. А. |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Issue Date: | Apr-2016 |
| Publisher: | ГКНТ РБ. Национальный центр интеллектуальной собственности |
| Citation: | Официальный бюллетень. - 2016. - № 2. - C. 107 - 108 |
| Abstract: | Способ определения показателя преломления вблизи края собственного поглощения толстой пленки прямозонного полупроводникового материала. |
| URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/151954 |
| Appears in Collections: | Кафедра физики твердого тела и нанотехнологий (статьи) |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Способ определения показателя преломления вблизи края собственного поглощения толстой пленки прямозонного полупроводникового материала.pdf | 813,97 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.