Logo BSU

Browsing "2016. Материалы и структуры современной электроники" by Issue Date

Jump to a point in the index:
Showing results 1 to 20 of 111  next >
PreviewIssue DateTitleAuthor(s)
2016Изменение морфологии платинового электрода на кремнии под воздействием высоких температурГолосов, Д. А.; Окоджи, Д. Э.; Руденков, А. С.; Завадский, С. М.; Мельников, С. Н.; Колос, В. В.
2016Вольт-фарадные характеристики МОП - структур Me – DyXOY(Ag) – SiO2 – Si c нанокластерами серебраМалютина-Бронская, В. В.; Малышев, С. А.; Романова, Л. И.; Бабушкина, Н. В.; Гущинская, Е. В.
2016Влияние электромагнитных излучений различных частотных диапазонов на структуру воды – одного из основных технологических материалов микро- и наноэлектроникиЛукьяница, В. В.
2016Влияние режимов магнетронного распыления на оптические свойства TiAlN покрытий для селективных солнечных поглотителейЗайков, В. А.; Климович, И. М.; Комаров, Ф. Ф.; Королик, О. В.; Людчик, О. Р.
2016Исследование тонкопленочных композиций на основе бутилтитанатов в качестве маскирующих покрытий для наноэлектроникиЛипай, М. С.; Соколов, В. Г.
2016Синтетические алмазы СТМ «Алмазот» – результаты исследований и некоторые примененияКазючиц, Н. М.; Русецкий, М. С.; Наумчик, Е. В.; Казючиц, В. Н.
2016Влияние допирования эрбием на диэлектрические свойства монокристаллов TlInS2Гуртовой, В. Г.; Шелег, А. У.
2016Оптимизация процесса химико-механической полировки вольфрама для формирования межсоединений субмикронных ИМСНаливайко, О. Ю.; Роговой, В. И.; Турцевич, А. С.
2016Бесконтактное определение пространственного распределения времени жизни неравновесных носителей заряда в кремнии на основе анализа спектральной зависимости поверхностной фотоЭДСЖарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В.
2016Быстрая термическая обработка системы TiN/Ti/SiМаркевич, М. И.; Стельмах, В. Ф.; Чапланов, А. М.; Петлицкий, А. Н.; Жигулин, Д. В.
2016Диффузионные процессы в светочувствительной структуре полупроводник-металл-диэлектрикКостко, В. С.
2016Структура мезопористого кремния и ее геометрическая характеризацияЗавацкий, С. А.; Бондаренко, В. П.
2016Разработка нового способа изготовления транзистора со статической индукциейЛагунович, Н. Л.; Турцевич, А. С.; Борздов, В. М.
2016Структура и газочувствительные свойства оксидной композиции WO3–In2O3Гайдук, Ю. С.; Савицкий, А. А.
2016Морфология поверхности пленок теллурида кадмия, полученных на кремниевой подложке методом вакуумного напыленияАкобирова, А. Т.; Головчук, В. И.; Лукашевич, М. Г.; Султонов, Н.; Хамрокулов, Р. Б.
2016Государственный центр «Белмикроанализ» – центр коллективного пользования по проведению аналитических исследований при создании инновационных изделий микро- и наноэлектроникиПилипенко, В. А.
2016Спектроскопические характеристики композиционных материалов на основе халькопиритовАзарко, И. И.; Игнатенко, О. В.; Оджаев, В. Б.; Zukowski, P.; Карпович, И. А.
2016Mössbauer studies of the phase formation in the Fe-S systemKorzun, B.; Sobol, V.; Myndyk, M.; Šepelák, V.; Becker, K. D.
2016Химическая чистота и параметры МОП-структур на кремнииВасильев, Ю. Б.; Оджаев, В. Б.; Панфиленко, А. К.; Петлицкий, А. Н.; Садовский, П. К.; Тарасик, М. И.; Филипеня, В. А.; Челядинский, А. Р.
2016Исследование методом электротепловой спектрометрии деградации структуры теплового сопротивления транзисторов КП7209 в корпусе ТО-254 при воздействии высокоинтенсивных термоударовБумай, Ю. А.; Васьков, О. С.; Кононенко, В. К.; Нисс, В. С.; Керенцев, А. Ф.; Петлицкий, А. Н.; Рубцевич, И. И.