Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/210971
Title: Влияние морфологии поверхности пористых темплатов TiO2 //X (X = Si, Ti) на структуру и магнитные свойства многослойных пленок Co/Pd
Other Titles: Influence of surface morphology of porous templates TiO2 //X (X = Si, Ti) on structure and magnetic properties of Co/Pd multilayered films / Wu Wen-Bin, J. V. Kasiuk, J. A. Fedotova
Authors: У Вэньбинь
Касюк, Ю. В.
Федотова, Ю. А.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2018
Publisher: Минск : БГУ
Citation: Журнал Белорусского государственного университета. Физика = Journal of the Belarusian State University. Physics. - 2018. - № 3. - С. 91-101
Abstract: В ходе проведенных исследований многослойные пленки Co/Pd осаждались на пористые темплаты TiO2, сформированные на различных подложках – кремниевых пластинах (Si) и титановой фольге (Ti), в целях сохранения в них перпендикулярной магнитной анизотропии, характеризующей соответствующие сплошные пленки. Результаты магнитометрического анализа показывают, что при использовании пластин Si в качестве подложки осажденная на пористые темплаты TiO2 многослойная пленка обладает выраженной перпендикулярной магнитной анизотропией с относительно высоким параметром остаточной намагниченности (Mr /MS = 0,85), а также в два раза большей коэрцитивной силой (HC hard = 176,6 кА/м) по сравнению со сплошной пленкой того же состава на пластине Si (референтная пленка). Полученные параметры открывают перспективы для применения данных пленок при создании различных спинтронных устройств и сред перпендикулярной магнитной записи.
Abstract (in another language): In the present research, multilayered Co/Pd films were deposited on the porous TiO2 templates obtained on different substrates – silicon wafers (Si) and titanium foil (Ti), in order to conserve a high effect of perpendicular magnetic anisotropy characterizing the corresponding continuous films. The results of the magnetometric analysis show that the multilayered films deposited on the porous TiO2 templates on Si wafers demonstrate good perpendicular magnetic anisotropy with a relatively high remanent magnetization (Mr /MS = 0.85) and twice higher coercive field (HC hard = 176.6 kA/m) compared to the corresponding continuous film on Si wafer (reference film). The obtained parameters open up the possibility to apply these films for designing various spintronic devices and perpendicular magnetic recording media.
URI: http://elib.bsu.by/handle/123456789/210971
ISSN: 2520-2243
Licence: info:eu-repo/semantics/openAccess
Appears in Collections:2018, №3

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
91-101.pdf2,42 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar



PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.