Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/213196
Title: | Радиационная стойкость нанокомпозитных и многослойных высокотвердых покрытий ZrSiN : отчет о научно-исследовательской работе (заключительный) / БГУ ; научный руководитель В. В. Углов |
Authors: | Углов, В. В. Злоцкий, С. В. Солодухин, И. А. Ровбуть, А. Ю. Лешкевич, С. С. |
Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Приборостроение ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Ядерная техника |
Issue Date: | 2017 |
Publisher: | Минск : БГУ |
Abstract: | Объектами исследования служили нанокомпозитные и многослойные покрытия Zr-Si-N, сформированные методом реактивного магнетронного распыления. Цель НИР - разработка физических основ создания нового поколения радиационно стойких нанокомпозитных и многослойных покрытий на основе системы ZrSiN для защиты оболочек тепловыделяющих элементов ядерных реакторов. В результате выполнения работы показано, что нанокомпозиционные ZrSiN и многослойные ZrN/SiNx покрытия, облученные ионами Xe с энергией 360 кэВ и дозами 1 * 10 в 16 степени и 5 * 10 в 16 степени см -2 обладают высокой радиационной стойкостью фазового состава и структуры. Облучение ионами Xe покрытий приводит к снижению уровня сжимающих напряжений и уменьшению твердости нанокомпозитных покрытий на 15-20 % и многослойных - на 10-15 %. Облучение ионами Xe нанокомпозитных ZrSiN и многослойных покрытий приводит к увеличению коэффициента трения. Уменьшение твердости и увеличение коэффициента трения может быть объяснено аккумулированием Xe в покрытии и росте радиационных дефектов кристаллической решетки, а также образования радиационной пористости покрытий. |
URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/213196 |
Registration number: | № госрегистрации 20151522 |
Appears in Collections: | Отчеты 2017 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Отчет 20151522 Углов.doc | 9,45 MB | Microsoft Word | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.