Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/241889
Title: Анализ упругих напряжений в облученных высокоэнергетическими ионами алмазах : отчет о научно-исследовательской работе (заключительный) / БГУ ; научный руководитель Н. М. Казючиц
Authors: Казючиц, Н. М.
Русецкий, М. С.
Королик, О. В.
Казючиц, В. Н.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Геология
ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Механика
Issue Date: 2019
Publisher: Минск : БГУ
Abstract: Объектами НИР являются синтетические алмазы. Цель работы: исследование распределения упругих напряжений в алмазах после облучения. Основные методы проекта: спектроскопия поглощения и спектроскопия комбинационного рассеивания. В ходе выполнения подготовлены и исследованы исходные пластины синтетического алмаза; проведено облучение пластин алмаза быстрыми тяжелыми ионами Xe в диапазоне флюенсов 1,0•1013-8,15•1014 см-2; приготовлены полированные поперечные сечения пластин алмаза; исследованы облученные быстрыми тяжелыми ионами области пластин алмаза и области за пробегом ионов. В результате установлены следующие основные закономерности: – интенсивность и ширина основной линии КРС 1332 см-1 отражает количество наведенных облучением дефектов структуры и может служить индикатором их распределения; – величина сдвига спектрального положения линии 1332 см-1 задается величиной напряжений в имплантированном ионами слое и за его пределами; – расширение кристаллической решетки алмаза в облученном ионами Хе 167 МэВ 10 мкм слое приводит к тангенциальным напряжениям, которые вызывают деформацию (изгиб) всей алмазной пластины; – в неповрежденной облучением части пластины алмазная решетка находится под действием чередующихся растягивающих и сжимающих напряжений, «компенсирующих» в целом расширение решетки в облученном слое. Обнаружена частичная релаксация напряжений во всем облученном ионами слое, свидетельствующая о меньшей его прочности и связанная с началом аморфизации в области максимального дефектообразования.
URI: http://elib.bsu.by/handle/123456789/241889
Registration number: № госрегистрации 20192548
Appears in Collections:Отчеты 2019

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Отчет 20192548 Казючиц.doc12,15 MBMicrosoft WordView/Open
Show full item record Google Scholar



PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.