Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/241889
Заглавие документа: Анализ упругих напряжений в облученных высокоэнергетическими ионами алмазах : отчет о научно-исследовательской работе (заключительный) / БГУ ; научный руководитель Н. М. Казючиц
Авторы: Казючиц, Н. М.
Русецкий, М. С.
Королик, О. В.
Казючиц, В. Н.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Геология
ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Механика
Дата публикации: 2019
Издатель: Минск : БГУ
Аннотация: Объектами НИР являются синтетические алмазы. Цель работы: исследование распределения упругих напряжений в алмазах после облучения. Основные методы проекта: спектроскопия поглощения и спектроскопия комбинационного рассеивания. В ходе выполнения подготовлены и исследованы исходные пластины синтетического алмаза; проведено облучение пластин алмаза быстрыми тяжелыми ионами Xe в диапазоне флюенсов 1,0•1013-8,15•1014 см-2; приготовлены полированные поперечные сечения пластин алмаза; исследованы облученные быстрыми тяжелыми ионами области пластин алмаза и области за пробегом ионов. В результате установлены следующие основные закономерности: – интенсивность и ширина основной линии КРС 1332 см-1 отражает количество наведенных облучением дефектов структуры и может служить индикатором их распределения; – величина сдвига спектрального положения линии 1332 см-1 задается величиной напряжений в имплантированном ионами слое и за его пределами; – расширение кристаллической решетки алмаза в облученном ионами Хе 167 МэВ 10 мкм слое приводит к тангенциальным напряжениям, которые вызывают деформацию (изгиб) всей алмазной пластины; – в неповрежденной облучением части пластины алмазная решетка находится под действием чередующихся растягивающих и сжимающих напряжений, «компенсирующих» в целом расширение решетки в облученном слое. Обнаружена частичная релаксация напряжений во всем облученном ионами слое, свидетельствующая о меньшей его прочности и связанная с началом аморфизации в области максимального дефектообразования.
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/241889
Регистрационный номер: № госрегистрации 20192548
Располагается в коллекциях:Отчеты 2019

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Отчет 20192548 Казючиц.doc12,15 MBMicrosoft WordОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



PlumX

Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.