Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/241889
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКазючиц, Н. М.-
dc.contributor.authorРусецкий, М. С.-
dc.contributor.authorКоролик, О. В.-
dc.contributor.authorКазючиц, В. Н.-
dc.date.accessioned2020-04-18T20:42:23Z-
dc.date.available2020-04-18T20:42:23Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.other№ госрегистрации 20192548ru
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/241889-
dc.description.abstractОбъектами НИР являются синтетические алмазы. Цель работы: исследование распределения упругих напряжений в алмазах после облучения. Основные методы проекта: спектроскопия поглощения и спектроскопия комбинационного рассеивания. В ходе выполнения подготовлены и исследованы исходные пластины синтетического алмаза; проведено облучение пластин алмаза быстрыми тяжелыми ионами Xe в диапазоне флюенсов 1,0•1013-8,15•1014 см-2; приготовлены полированные поперечные сечения пластин алмаза; исследованы облученные быстрыми тяжелыми ионами области пластин алмаза и области за пробегом ионов. В результате установлены следующие основные закономерности: – интенсивность и ширина основной линии КРС 1332 см-1 отражает количество наведенных облучением дефектов структуры и может служить индикатором их распределения; – величина сдвига спектрального положения линии 1332 см-1 задается величиной напряжений в имплантированном ионами слое и за его пределами; – расширение кристаллической решетки алмаза в облученном ионами Хе 167 МэВ 10 мкм слое приводит к тангенциальным напряжениям, которые вызывают деформацию (изгиб) всей алмазной пластины; – в неповрежденной облучением части пластины алмазная решетка находится под действием чередующихся растягивающих и сжимающих напряжений, «компенсирующих» в целом расширение решетки в облученном слое. Обнаружена частичная релаксация напряжений во всем облученном ионами слое, свидетельствующая о меньшей его прочности и связанная с началом аморфизации в области максимального дефектообразования.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherМинск : БГУru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Геологияru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Механикаru
dc.titleАнализ упругих напряжений в облученных высокоэнергетическими ионами алмазах : отчет о научно-исследовательской работе (заключительный) / БГУ ; научный руководитель Н. М. Казючицru
dc.typereportru
dc.rights.licenseCC BY 4.0ru
Appears in Collections:Отчеты 2019

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Отчет 20192548 Казючиц.doc12,15 MBMicrosoft WordView/Open
Show simple item record Google Scholar



PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.