Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/304316
Title: Влияние облучения электронами с энергией 4 МэВ на рабочие характеристики кремниевых биполярных транзисторов
Other Titles: Effect of 4 MeV electron irradiation on the operating characteristics of silicon BJTs / Sergei Miskevich, Alexander Komarov, Vera Yuvchenko, Alexei Ermolaev, Sergei Shpakovski, Yuri Bogatyrev, Galina Zayats
Authors: Мискевич, С. А.
Комаров, А. Ф.
Ювченко, В. Н.
Ермолаев, А. П.
Шпаковский, С. В.
Богатырёв, Ю. В.
Заяц, Г. М.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2023
Publisher: Минск : БГУ
Citation: Взаимодействие излучений с твердым телом : материалы 15-й Междунар. конф., Минск, Беларусь, 26-29 сент. 2023 г. / Белорус, гос. ун-т ; редкол.: В. В. Углов (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2023. – С. 180-182.
Abstract: В работе рассматриваются процессы, происходящие в биполярных транзисторах на кремнии, при облучении их потоком высокоэнергетических электронов со средней энергией 4 МэВ. Определено, что основной вклад в радиационную деградацию рабочих характеристик данного типа приборов вносит уменьшение времени жизни неравновесных носителей заряда вследствие появления при облучении дефектов - центров рекомбинации. Разработана физико-математическая модель радиационного изменения времени жизни неравновесных носителей заряда в базе транзистора при облучении электронами. Предложен метод расчёта радиационного коэффициента изменения времени жизни неравновесных дырок при облучении электронами 4 МэВ. Проведен расчёт изменения выходных характеристик и коэффициента усиления p-n-p биполярного транзистора при облучении электронами
Abstract (in another language): Semiconductor devices used in space, on atomic objects or in military equipment should have the high radiation hardness. Their manufacturing is expensive and requires the series of the tests of the finished products. To reduce the costs, the computer simulation of device operation is used. The software allows to forecast the malfunction and failure of the semiconductor devices at the design stage. This work represents the research of processes in the silicon p-n-p bipolar junction transistors (BJT) operating under the irradiation of 4 MeV electrons with a dose of up to 10 15 cm -2. The model of radiation changes of the BJT characteristics is developed. The base of this model is the equation of continuity of non-equilibrium charge carriers describing their distribution within the base area of BJT. Distribution profile defines the recombination losses of non-equilibrium charge carriers and the currents through the terminals. The method of calculation of the radiation factor of lifetime change for the electron flux is proposed. Experimental research was carried out at the “Integral” facility. The dependence of input and output characteristics, collector current and current gain on the radiation dose is obtained and presented in this work. Both simulation and experimental results show the significant deterioration in the BJT performance
Description: Секция 2. Радиационные эффекты в твердом теле = Section 2. Radiation effects in solids
URI: https://elib.bsu.by/handle/123456789/304316
ISSN: 2663-9939 (Print)
2706-9060 (Online)
Licence: info:eu-repo/semantics/openAccess
Appears in Collections:2023. Взаимодействие излучений с твердым телом

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
180-182.pdf323,21 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.